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OrCAD Capture嵌入XJTAG DFT插件


新增的、 易于使用的测试设计 (DFT) 软件将帮助您在设计初期找到并修复常见的设计错误。物理访问板子上诸如BGA这类芯片的管脚是几乎不可能的,因此,通过JTAG确保这些器件的可测性就至关重要。未能这样做可能导致电路板重新开发和项目延迟而产生的高昂成本。


XJTAG DFT Assistant通过与OrCAD Capturer的深度整合,以帮助工程师验证 JTAG 链路的正确连通性。

免费提供给 OrCAD Capture用户 (17.2 版本及以上)

在硬件产品生产之前获取JTAG链路上的错误

利用边界扫描能力提高可测试性


XJTAG链路检查器

此功能可以识别 JTAG 扫描链路中的常见错误,比如测试访问端口 (TAP)连接和终端的错误信号。一个错误的连接可能导致整个扫描链路无法工作。XJTAG 链路检查器可以在电路设计时,发现连接错误,并实时报告错误问题,让开发人员可以在上件前就纠正这些错误,并避免重新制板。



XJTAG Access查看器

把整个边界扫描链路在原理图上显示出来,用户实时看到哪些器件在链路中用于JTAG测试,那些不是。 同时还能通过这个看到在哪些地方可以提高测试覆盖率,让PCB主板测试更容易,使产品缩短生产时间,更快地推上市场。


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